组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检【jiǎn】测中文名【míng】为电致发光缺【quē】陷检测，是根据硅材料的电致发光【guāng】原理对组【zǔ】件进行【háng】缺陷检测。给晶体硅电【diàn】池组件【jiàn】通入9-22.5倍【bèi】Isc的【de】正向电流，硅【guī】片会发出1000-1100nm的红【hóng】外光【guāng】，同时摄【shè】像头可以捕捉到这 9-22 / 光伏
