组件 组件常见EL缺陷 组件【jiàn】EL（Electroluminescence）检测中文名为电【diàn】致发光【guāng】缺陷检测，是根据硅材料的电致发光原理对【duì】组件进行缺陷检【jiǎn】测。给晶【jīng】体硅电池组件通【tōng】入9-22.5倍Isc的正向电【diàn】流，硅【guī】片会发出1000-1100nm的【de】红外【wài】光，同时摄【shè】像头可以捕捉到这【zhè】 9-22 / 光伏
